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  • MOS场效应管功率开关栅级驱动器芯片损坏分析-竟业电子 MOS场效应管功率开关栅级驱动器芯片损坏分析-竟业电子
    栅级驱动器封装,对不同开关和不同测试条件,芯片有着相似损坏。 电压=750 V,试验IGBT爆炸+限流器件Rg+DZ损坏; 只看到引脚VDDA线焊位置附近小范围熔化,损坏阶段,栅级过电流通过内置P-MOS场效应管二极管流入 100 μF 电容,过电流,线焊附近区域熔化。 驱动器芯片没有进一步损坏,控制芯片也没有出现进一步的隔离损坏。试验:熔融区域,直接将150 V高压施加于驱动器芯片,控制芯片电隔离通过本次极端过载试验。 如上图1,试验8期间:损坏位置 ADuM4223 #1,输出芯片表面有一小块烧坏,隔离栅没有受损; 上图2,试验9期间:损坏位置ADuM4223 #2,极端电气过载时控制芯片没有损坏,隔离栅没有受损。

    时间:2021/7/6键词:MOS场效应管

  • 控制MOS场效应管损坏程度测试电路-MOS场效应管应用-竟业电子 控制MOS场效应管损坏程度测试电路-MOS场效应管应用-竟业电子
    MOS场效应管驱动器电气过载测试,即EOS测试; 因此建接近实际情况电路; 此电路含有应用于5 kW~20 kW逆变器的电容和电阻。 用2 W额定功率金属电阻应用于轴向型栅极电阻Rg。 用阻流二极管D1是为了不让电流从高压电路反向进入外部电源。 可反应出实际情况,要组成自举电路,浮动电源至少包括一个整流器即可, 电解电容块充电:是高压电源HV通过充电电阻Rch+开关S1的电路 实施EOS测试 控制输入VIA或VIB,用500μs开启信号; 开启信号通过微隔离传输,会造成短路,并损毁功率晶体管T1。 若在一定情况时,会出现晶体管封装爆炸。

    时间:2021/7/2键词:MOS场效应管

  • MOS场效应管电流电压与米勒平台时间关系分析-竟业电子 MOS场效应管电流电压与米勒平台时间关系分析-竟业电子
    米勒平台时间,GS电容+Cgd电容+Id+Vd+驱动电流Igs+Layout回路大小+板级走线+MOS场效应管内部电感影响GS电流回路。 受影响即Vgs波形容易发生震荡。米勒电容Cgd大小,受漏极电压Vd影响 Vd电压越高,Cgd越大; Vd电压越低,Cgd越小; Vd电压间接影响GS电流 Vd电压高,受米勒电容影响越大。 高压MOS场效应管,Vd越大Id电流越小,即米勒电容大,DS电流小,导通后即容易震荡。 低压MOS场效应管,Vd电压低,米勒电容小,Id电流大,关断易震荡。

    时间:2021/7/1键词:MOS场效应管

  • 英飞凌infineon IRF3205S优势及参数-MOS场效应管知识-竟业电子 英飞凌infineon IRF3205S优势及参数-MOS场效应管知识-竟业电子
    英飞凌infineon MOS场效应管IRF3205S优势 宽SOA的平面单元结构 为分销合作伙伴提供最广泛的可用性而优化 符合JEDEC标准的产品鉴定 硅优化应用开关低于100千赫 工业标准表面贴装电源组件 高载流能力封装(高达195A,取决于芯片尺寸) 能被波浪焊接的 D2-Pak封装中的55V单N沟道HEXFET功率MOSFET 为分销合作伙伴提供最广泛的可用性而优化 符合JEDEC标准的产品鉴定 为10V栅极驱动电压优化(称为正常电平) 工业标准表面贴装电源组件 高载流能力封装(高达195A,取决于芯片尺寸) 能被波浪焊接的 英飞凌infineon MOS场效应管 IRF3205S参数   Datasheet下载

    时间:2021/6/30键词:MOS场效应管

  • MOS场效应管在工业雪崩中作用及MOS场效应管元件物理-竟业电子 MOS场效应管在工业雪崩中作用及MOS场效应管元件物理-竟业电子
    MOS场效应管操作期间,漏电感存储能量。 若电感没有正确钳位,MOS场效应管关断时,过初级开关让漏电感通放电,或致雪崩操作,雪崩故障模式:功率半导体元件设计在有限时间内承受一定量雪崩电流,可达雪崩额定值。 功率 MOS场效应管元件物理 半导体元件一般都含物理设计固有寄生元件,MOS场效应管组件:电容器+电阻器+体二极管+ NPN序列(即BJT)

    时间:2021/6/28键词:MOS场效应管

  • MOS场效应管二极管正向电压及功率耗散-竟业电子 MOS场效应管二极管正向电压及功率耗散-竟业电子
    MOS场效应管二极管VF正向电压在规定源电流下,产生体二极管最大正向压降。 如下图所示 p-n结:Tj=25 ℃ 或Tj=150 ℃ 二极管典型电流-电压(I-V)特性。 因金属层与p型硅间:接触电阻 > 金属层与n型硅间:接触电阻 P沟道MOS场效应管正向电压VF更高。 高压元件 即>100V最大正向电压=1.6V, 低压元件即<100V最大正向电压值=1.0V 功率耗散 表面温度=25℃ 重要:晶圆温度上升至最高允许值,所允许最大功率耗散。 功率耗散: Tjmax=150℃或175℃ 即元件pn结最高允许温度 元件结到壳热阻RthJC

    时间:2021/6/24键词:MOS场效应管

  • 功率MOS场效应管导通电阻图解-MOS场效应管知识-竟业电子 功率MOS场效应管导通电阻图解-MOS场效应管知识-竟业电子
    一个功率MOS场效应管的导通电阻中有多个元件的电阻 功率MOS场效应管内阻 上图字母代表如下: JFET晶体管的电阻RJ 漂移区电阻RD 衬底电阻Rsub 源极扩散电阻Rsource 沟道电阻Rch 积累层电阻RA 连接引线总电阻Rwcml 应用 高压元件:衬底电阻20mΩ-cm晶圆 低压元件:低于5mΩ-cm晶圆 Rwcml源极和漏极金属层与硅片接触面的接触电阻,金属层产生的电阻和引脚框架产生的电阻。 高压元件中,电阻非常小可忽略, 低压元件中,电阻非常大。

    时间:2021/6/23键词:MOS场效应管

  • SiC MOS场效应管如何检测结温监控电路-竟业电子 SiC MOS场效应管如何检测结温监控电路-竟业电子
    MOS场效应管结构中与之相关的阈值电压Vth,它负责在元件中创建导电通道的最小栅极电压,在漏极与源极间允许电流流动,如下图所示,阈值电压高于Vgs栅极驱动器电压数量。t0→t1导通过渡开始点,Id漏极电流=0 Vgs=t1时,即移动到Vth,Id增加, 准阈值电压概念:即为在导通过程中与t1的时间相对应的栅极驱动电压的值。 负温度系数结温度升高,t1量减少。 Lss'上电压发生变化,阈值电压与结温度间的现有关系改变。

    时间:2021/6/25键词:MOS场效应管

  • 英飞凌Infineon 推出TOLG与TOLT提高稳定性及高热性能-竟业电子 英飞凌Infineon 推出TOLG与TOLT提高稳定性及高热性能-竟业电子
    英飞凌Infineon 推出新OptiMOS™ TOLx系列产品包:TOLG可提高TCoB稳定性,TOLT可提高热性能 电子踏板车、电子叉车和其他轻型电动汽车(LEV)以及电动工具和电池管理系统等应用,要求高电流额定值、耐用度和延长使用寿命。 英飞凌Infineon 通过向电力系统设计师提供更多选择,以满足不同的设计需求,并在最小空间实现最大性能,从而满足这些要求。英飞凌Infineon 采用了创新型无铅(收费)软件包,现在提供了两款新的OptiMOS™ TOLx系列中的功率MOSFET封装:TOLG(带沟道引线)和TOLT(用于引线顶部冷却)。TOLx系列提供了非常低的R DS(on)和超过300A的高电流额定值,以提高系统在高功率密度设计中的效率。

    时间:2021/6/17键词:英飞凌Infineon

  • 英飞凌EiceDRIVER™ 1EDB单通道门驱动器集成电流隔离-竟业电子 英飞凌EiceDRIVER™ 1EDB单通道门驱动器集成电流隔离-竟业电子
    英飞凌infineon EiceDRIVER™ 1EDB单通道门驱动器IC系列,在小型150 mil 8针DSO封装中集成电流隔离 英飞凌infineon降低复杂性,提高功能性和效率是所有照明制造商的主要议程。在这方面,OSRAM和英飞凌现在联手为业界实现近场通信(NFC)编程。OSRAM新光电® FIT产品系列具有Infineon的NLM0011和NLM0010双模NFC无线配置集成电路(IC)和脉宽调制(PWM)。这将为LED灯具价值链的各个层面带来好处。

    时间:2021/6/16键词:英飞凌

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