场效应管MOS管半导体结构原理及开启过程

   时间:2020/6/9      阅读:5795   关键词:MOS管

场效应管MOS半导体结构

场效应管MOS管是半导体电子元器件,原始材料+掺杂半导体形成的PN型物质,如下图所示:

 

半导体工艺MOS管的制作过程,如下图所示:

MOS管立体结构

 

 

MOS管符号表达

 

 

 

场效应管MOS工作原理

以增强型 MOS

PN2背靠背利用电场在栅极形成载流子沟道来连接DS

 

启动电压不足:

N衬底P载流子自然复合形成中性耗尽区栅极得正向电压,P少子在电场作用下聚集到栅极氧化硅下形成电子多子区域,即称之为反型层(P型衬底区形成N型沟道区),此时DS导通。

 

 

 

MOS开启模拟电路图

 


电流Id电流Id,开启电压=1.65V

 

 

场效应管MOS管如何开启

 

 

 Vgs > VthVds

Vgs=常数,Vds升高Id近似线性升,电阻特性

Vds=常数,Vgs升高Id近似线性升高,压控电阻特性。

即曲线左边

 

Vds控制MOS管沟道

Vgs > VthVds

Vds > Vgs-Vth

DS间电场开始导致右侧沟道变窄电阻电流Id增加缓慢

Vds不断增加到一定值后,即右沟道被夹断

 

 

 

  1. S间电压分布在靠近D端夹断耗尽区夹断区增大沟道宽度W减小致电阻增大抵消了VdsId正向作用,致电流Id不随Vds增加而变化

D端载流子在强电场作用下扫过耗尽区达到S

 

 

MOS 管的恒流区饱和区放大区沟道调制效应沟道长度L变化,曲线上翘

 

 

 

为什么会击穿

Vgs 过大导致

1.栅极薄氧化层被击穿损坏。

2.D和衬底间反向PN结雪崩击穿,大电流直接流入衬底。

 

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